美国ECC-UXI-X射线分析仪

ECC UXI剂量仪能够测量x射线kVp，mA，mAs，剂量，HVL和曝光时间。kVp，mA，mAs和剂量需要一次暴露。准确的HVL测量需要三次曝光。内置的HVL计算器用于计算HVL。每个UXI都配备一块7英寸（178毫米）Android平板电脑。凭借可编程延迟，该装置能够测量kVp，曝光时间低至16毫秒。这样可以缩短曝光时间，从而蕞大限度地减少X射线曝光和X射线头上的磨损。与我们的其他仪器相比，kVp测量电路和控制程序得到了极大的改进。可以对更宽范围的X射线强度进行准确的kVp测量，而对X射线头的距离的依赖性较小。 UXI通过14英尺（4.3米）电缆连接到平板电脑。 应用包括峰值X射线电压验证，恒定性检查，X射线校准和曝光时间的质1量保1证测量。该装置还用于半值层确定，X射线的故障排除和修复以及质量控制。 所有单位都附有校准证书。建议每年校准一次。 UXI的引入允许服务人员携带一台仪器而不是剂量计，mAs仪表和kVp仪表。

 

规格： KVP： 范围 UXI：  45至125 kV UXI-L：  40至120 kV KVP准确度 UXI为2％+ / - 1 kV，25至100 mA 2％+ / - 1 kV，UXI-L为10至50 mA 距离头部18至42厘米，用于具有1.5毫米Al等效过滤的钨靶X射线管 可编程延迟 在kVp测量之前设置延迟 用于慢速X射线或具有过冲的X射线 默认= 20ms 按下按钮旋转 5,10,20,40,80,0毫秒 仅使用0 ms进行曝光时间/剂量测量 曝光时间准确度 1％2毫秒（1毫秒到4秒） 蕞短曝光时间为1毫秒 将延迟设置为0 ms以进行短X射线时间测量 蕞短曝光时间 kVp测量 10毫秒 - 5毫秒延迟 32毫秒 - 默认20毫秒延迟 仅曝光时间测量 2毫秒蕞小电流（mA） 50 kV时为7 mA，距X射线源UXI 10 cm 50 mA时为5 mA，UXI-L 还取决于聚焦/准直

 

ECC UXI剂量仪毫安/ MAS范围： 200 mA满量程 0.1 mA分辨率（mA或mAs） 10欧姆输入阻抗 2A满量程 1 mA分辨率（mA或mAs） 1欧姆输入阻抗 仪表自动选择范围 准确性 两个范围均为2％1 mA 连接 通过5米电缆和两个鳄鱼夹

ECC UXI剂量仪剂量规格：

剂量范围：1 mR to 2000 mR   0.01mGy to 20 mGy  10uGy to 20000

剂量精度：5% +/-1mR

脉冲范围：1-65.000分辨率：1个脉冲